自动化多用途粉末 X 射线衍射仪：
XRDynamic 500
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XRDynamic 500 能以更高效率推动无与伦比的 XRD 数据质量。尽享囊括各种应用的多功能平台所带来的优势，为粉末 XRD、非环境 XRD、PDF 分析、SAXS 等提供更佳解决方案。 使用直观，具有全自动光学和校准程序，它能使每个人从新手变为专家，在更大限度减少误差的同时快速收集顶级质量的 XRD 数据。XRDynamic 500: Driving XRD.
优势
XRDynamic 500 的 TruBeam™ 理论结合了大测角半径、真空光路和全自动 X 射线光学/光束几何变化。借助具有优化工作流程的直观软件，使用各种仪器配置测量一系列样品。采用标准 Bragg-Brentano 配置，实现了一流的分辨率 (LaB₆ 第一个标准峰的 FWHM <0.021° ）。出色的信噪比，测量背景减少 50% 以及更低的寄生空气散射。快速重新配置以进行优化的非环境 XRD 实验或有着专用 SAXS 仪器质量的 SAXS 测量。
- 只需点击一下，即可在多达 3 种光束几何之间进行切换
- 在没有用户干预的情况下，按顺序依次运行不同的测量
- 节省时间：提高仪器使用率达50%
挑战
在许多衍射仪中，每个测量光学几何结需要用户更换部件。只有在打开仪器手动更改配置后，才能依次执行两种完全不同类型的测量。
解决方案
借助电动光学堆栈，单击按钮即可在多达 3 种光束几何之间切换（适用于所用任何类型的 X-射线管）。其独特的源倾斜轴使得每个几何结构都能精确且自动地校准。
优势
自动切换多达 3 种光束几何，使其能够在不同（或相同）的样品上连续进行完全不同类型的测量，无需更换部件或任何用户输入。在通宵和周末运行复杂的测量批次而无需任何用户干预，享受到仪器正常运行时间高达 50% 的增加。
- 所有光学元件的自动化
- 效率更高，错误更少
- 为每个用户提供高质量数据
挑战
选择正确的光学元件通常意味着更换组件并在测量软件中手动更新测量配置。这很耗时，可能会导致错误，并且需要监督或对更多缺乏经验的用户进行广泛培训，以定期收集高质量的 XRD 数据。
解决方案
光路中所有光学组件的完全自动化，只需点击即可更改仪器配置。无需实际更换部件或用户干预。
优势
自动切换到正确的光学元件并始终识别当前配置，节省时间并减少用户出错的机会。即使对于刚接触 XRD 的用户来说，其测量设置也非常直观且直接。
- 仪器自校准，无需上门服务
- 每次测量配置的完美自动校准
- 每个样品自动校准
挑战
衍射仪的校准，尤其是 X-射线光学元件的校准，需要专业知识，甚至需要上门服务。对于缺乏经验的用户来说，样品校准同样也很困难。
解决方案
全自动仪器校准程序允许随时执行仪器自校准。自动样品校准程序可用于每个样品。
优势
取消上门服务，并让仪器自对齐。确保仪器（和样品）始终完美校准以获得更佳质量的数据，更大限度地延长正常运行时间并降低拥有成本。
- 直观、优化的测量工作流程
- 初学者和专家皆可轻松上手
- 减少用户培训时间
挑战
传统的衍射系统通常是由多个组件组成的复杂阵列，这对新手用户来说可能会令人望而生畏。有经验的用户可能也需要花费大量时间来制定测量计划和仪器配置，这分散了重要任务的注意力。
解决方案
利用智能自动化，XRDynamic 500 和 XRDdrive 控制软件将简单的仪器操作和直观的工作流程完美的结合，细节更是多少由心，自由选择。
优势
享受简化的工作流程，更大限度地发挥 XRDynamic 500 自动化的优势。指导用户完成测量的软件能够帮助专家和新手按照自己的意愿工作，同时始终能够信赖其一流的数据质量。
- 在全新的光束理念下，每次都能提供完美的光束
- 一流的数据质量
- 更高测量效率
挑战
您如何确保始终能获得更佳光束和仪器配置，而不会牺牲数据质量或测量时间？
解决方案
其独特的 TruBeam™ 理念将 Primux 3000 X-射线源、大测角仪半径和真空光学元件、自动切换的光束几何和光学元件配置，以及自动的仪器和样品校准整合成一个体。
优势
每位用户都能为每个样品实现出色的测量性能，并从更高的分辨率、更多选择和更高的效率中获益。
- 测量分辨率提高 20 % 以上
- 即时可用的卓越分辨率 - 无需昂贵的光学元件
- 标配大测角半径
挑战
许多衍射仪能提供 240 - 300 mm 的测量半径，这会限制在不使用昂贵的光学元件的情况下实现的最大分辨率。否则就必须牺牲其强度。
解决方案
XRDynamic 500 标配了更大的测角仪半径 360 mm 或 400 mm，具有真空光学元件和更小的探测器像素尺寸。
优势
与传统衍射仪相比，由于采用真空光路，与标准 Bragg-Brentano 测量相比，XRDynamic 500 能够在不影响测量强度的情况下提高 20% 测量分辨率。
- 无与伦比的信噪比
- 减少50%的测量背景
- 消除空气散射的影响
挑战
为了获得好的信噪比，从而获得出色的数据质量，通常必须以较长的计数时间进行测量。
解决方案
真空光学元件的优势在于能够阻止寄生空气散射，可选择从光源到探测器的完全真空光路。
优势
将测量背景减少 50 % 并得益于无与伦比的信噪比，能够获得更佳质量的数据和更短的测量时间。
- 高样品通量和出色的数据质量
- 高强度测量模式
- 通过智能自动化加快工作流程
挑战
对于许多仪器来说，数据质量是以牺牲测量速度为代价的。
解决方案
得益于 TruBeam™，无论何种测量配置，XRDynamic 500 都能提供出色的数据质量和主光束强度。此外，还包括各种工作流程的自动化，例如更改仪器配置和校准程序。
优势
在不牺牲数据质量的情况下减少测量时间以提高样品通量。智能自动化意味着需要坐在仪器前的时间更少，有更多时间专注于更重要的事情。
- 强大的 Primux 3000 光源非常适合 XRD 和 SAXS
- 在几分钟内更换 X-射线管
- 在所有状况下实现更高主光束强度
挑战
始终让 X-射线管阳极保持更佳状态并不容易，因为更换 X-射线管通常很复杂。此外，使用不同的 X-射线光学元件时，由于光源与光学元件的次优校准，必将牺牲主光束强度。
解决方案
Primux 3000 X-射线源的智能设计允许在需要时快速更换 X-射线管。每种光源和光学元件的组合都可以自动校准。
优势
从光源上解决样品荧光等问题。更换 X-射线管，自动校准，并在15分钟内用新的波长再次测量。利用每个测量几何的精确校准，始终获得更高的主光束强度。
- 高强度多层光学元件
- 平行和聚焦光束几何
- 单色器最大化信噪比
挑战
对于某些样品或应用，需要光束整形光学元件（平行或聚焦光束）。此外，可能还需要单色器来抑制 Kβ 峰值并减少测量背景。
解决方案
各种多层单色器、平行光束和聚焦光学元件均可安装在电动光学元件堆栈中，只需单击一下即可选择。通过优化的出射角度，实现了每个光学元件的精确、自动校准。特殊Ni/C多层光学元件为 Cu 和 Co 源提供了固有的 Kβ 过滤。
优势
利用所有光学元件获得更高的强度，减少测量时间。卓越的信噪比和出色的分辨率能够确保数据的最高质量。
- 0D 或 1D 模式的最新像素探测器技术
- 像素尺寸小，分辨率高
- 能量过滤
挑战
高质量的 XRD 数据需要能够提供出色分辨率和信噪比的探测器。
解决方案
Pixos 探测单元基于 Advacam 的尖端光子计数技术，可在 0D 或 1D 模式下进行测量。XRDynamic 500 可选择 Si 或 CdTe 传感器以覆盖所有波长、有效的能量过滤，以及市场上更小的像素尺寸 (55 µm x 55 µm)。
优势
与 XRDynamic 500 更大的测角半径相结合，其探测器的小像素尺寸提高了每个波长的更大测量分辨率。Pixos 探测单元还提供了出色的能量分辨率（具有智能能量过滤）、线性度和效率。
- 应对各种应用的灵活性
- 高通量的换样器
- 出色的位置稳定性
挑战
在处理不同的应用需求时，要取决于是否有合适的 样品台 可用。
解决方案
多功能样品台可实现粉末或固体样品的反射和/或透射测量，并且有换样装置可供选择。
优势
可以使用各种样品台测量不同的样品类型。组件识别允许每个样品台以即插即用模式工作，以便快速精通所有应用。
- 多种样品架
- 适用于所有样品类型的解决方案
- 适用于弱散射和敏感材料的优化样品支架
挑战
真正的多功能衍射仪需要应对所有类型的样品需求。
解决方案
一系列样品架 意味着每种类型样品 — 粉末、固体、薄膜、纤维、凝胶、糊状物或液体，都有一个可用的样品架 。
优势
始终使用适合于手边样品在反射或透射模式下的更优化样品架无论是有机还是无机，甚至对空气或湿气敏感的样品，XRDynamic 500 都能提供解决方案。
- 非环境 XRD 更加简便
- 样品台即插即用功能
- 所有样品台内置温度控制单元 (CCU)
挑战
设置非环境 XRD 实验可能既复杂又耗时。通常，需要将许多电缆和管子送入仪器外壳内，以连接外部控制单元。
解决方案
享受非环境样品台的即插即用功能，该功能具有单独内置 CCU 控制单元，可与所有 Anton Paar 的非环境样品台配合使用。得益于仪器外壳中的便捷连接，适用于所有的非环境需求。
优势
XRDynamic 500 使非环境实验与执行任何其他测量一样简单，因此您可以立即重新配置为非环境配置。内置 CCU 减少了杂乱无章，避免了不同非环境附件需要多个控制单元的问题。
技术规格
| X 射线源 | |
| 光源类型 | Primux 3000 |
| X 射线发生器 | 高达 3 kW |
| 光管电压 / 电流 | 20 kV 至 60 kV / 2 mA 至 50 mA |
| 测角仪 | |
| 配置 | 垂直 Theta/Theta 几何结构 |
| 测量半径 | 360 或 400 mm |
| 最大可用角度范围 | -95° - 162.5° 2theta |
| 最小步长 | 0.0001° |
| 2theta 线性度 | ≤0.01° |
| 最大角速度 | 15°/s |
| 最大角分辨率 | 0.021°（LaB₆ 第一个标准峰的 FWHM） |
| 样品台和附件 | |
| 环境样品台 | 固定样品台 样品旋转台（反射/透射） XY 台（带自动进样器选项） 毛细管旋转台 EVAC 模块 |
| 非环境附件 | HTK 1200N HTK 16N/2000N HTK 1500 TTK 600 XRK 900 CHC plus⁺ BTS 150/500 |
| 探测器 | 固态混合像素探测器：
|
| 软件 |
|
| 通用规格 | |
| 尺寸（宽 x 深 x 高） | 1350 mm x 1160 mm x 1850 mm |
| 重量（不包括选配件） | 750 kg |
| 电源 | 三相：3/N/PE AC 400/230 V，50…60 Hz，25 A 单相：208…240 VAC，50…60 Hz，36 A |
| 最大功耗 （不带选配设备附加控制器） | 5.5 kW |
| 循环冷却水供水 | 流量：>3.6 L/min， 压力：4.5 – 6 bar，温度：<25 ℃ |
文档
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HEATING STRIP PLATINUM 102x10x1 mm
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REFLECTION SAMPLE HOLDERS FOR XY-6 STAGE (1 SD, 3 pcs)
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SPARE PARTS XRDynamic 500
密封管 X 射线源：
Primux 3000
- 用于高级 X 射线分析的强大 X 射线源
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- 简单更换 X 射线管或改变光管焦点
- 高强度多层膜 X 射线光学元件
- 适用于各个波长的平行和聚焦光束光学元件
- 借助初级单色器完成更大 Kβ 抑制
- 采用更新的 CERN 像素探测器技术，具有先进的降噪功能
- 可选择传感器材料以 0D 或 1D 模式进行测量
- 更小的像素尺寸 (55 µm x 55 µm)，具有出色的分辨率
- 能量过滤器可进一步减少测量背景
XRDynamic 500 样品台和样品架
- 适用于所有应用的多功能样品台
- 适用于高通量测量的换样器
- 用于操作中电池测量的步骤
- 适用于不同样品类型的多种样品架
用于高分辨率 SAXS 和 XRD 的真空室：
EVAC 模块
- 由于完全真空的光路，其具有无与伦比的信噪比
- 用于测量的专用 SAXS 光学器件，具备独立 SAXS 仪器的质量
- 适用于反射或透射的高分辨率 XRD 研究
- 测量不受 2θ 范围的任何限制
Low-Temperature Chamber:
TTK 600
- 用于 -190 °C 至 600 °C X 射线衍射研究的非环境附件
- 用于反射和透射几何中的样品研究
- 也适用于空气敏感样品和原位电池研究
- 适用于所有常用的粉末衍射仪
低温和湿度室：
CHC plus⁺
- 相对湿度和温度下的无冷凝实验
- 整体温度范围：-180 °C 到 +400 ℃；
受控相对湿度研究温度范围： 10 °C 到 80 °C - 无需打开低温和湿度室，即可从低/高温试验轻松转换到湿度测量
反应室：
XRK 900
- 适用于所有普通衍射仪的反应室
- 专门设计用于 900 °C 和 10 bar 下的固-固和固-气反应研究
- 样品架选项：耐化学材料，样品旋转，用于通过样品抽取气体的开放式支架
