XRD 探测器单元：
Pixos
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- 采用更新的 CERN 像素探测器技术，具有先进的降噪功能
- 可选择传感器材料以 0D 或 1D 模式进行测量
- 更小的像素尺寸 (55 µm x 55 µm)，具有出色的分辨率
- 能量过滤器可进一步减少测量背景
为了从 X 射线衍射实验中获得更佳数据质量，Pixos™ 探测装置结合了 Advacam 更新的 CERN 探测器技术与 XRDynamic 500 衍射仪的 TruBeam™ 理念。凭借 XRD 探测器的更小像素尺寸 (55 µm x 55 µm），利用高空间分辨率计算单个光子，固态 Pixos™ 探测器，能够为您的衍射数据提供更高的强度和更佳分辨率，并且可以在 0D 或 1D 模式下运行。全真空二次光学系统和探测器外壳确保了出色的信噪比，同时由于全电动 X 射线光学系统而保持了更佳的实验灵活性。
关键功能
高质量衍射数据的下一代探测器技术
Pixos™ 探测单元中包含的固态混合像素探测器采用了 CERN 的 Timepix3 芯片。检测单个光子的高空间和时间分辨率，使得在 1D 模式下工作时，衍射信号具有出色的角分辨率。即使测量信号很低，单光子计数探测器也能提供更佳的数据质量，而高的更大计数速率允许在直光束中进行测量，无需衰减器或光束遮挡器。
完全真空：以尽可能低的背景进行测量
在测量过程中避免空气散射，完全真空的 Pixos™ 探测单元可确保每次测量都能获得更佳信噪比。这对于背景敏感测量（例如 PDF 分析或 SAXS）或具有弱散射信号的少量样品尤其重要。在综合了 TruBeam™ 理念的其他组件后，真空二级光束路径有助于提供高数据质量，并可以通过 XRDynamic 500 的 Pixos™ 探测器单元测量这些数据。
以市场上更小像素尺寸获得出色的分辨率
Pixos™ 探测单元的探测器能够提供无与伦比的测量分辨率，这要归功于 55 µm x 55 µm 的像素尺寸 — 这是市场上用于XRD 平台更小的。小像素尺寸与 XRDynamic 500 的 TruBeam™ 理念中特有的扩展测角仪半径相结合，意味着利用标准 Bragg-Brentano 配置进行测量时，可以实现比传统衍射仪提高 20% 的测量分辨率。
通过自动优化将噪音降至更低
Pixos™ 探测单元包括一个高精度的电动防散射狭缝，可以使用仪器控制软件为每次扫描进行设置。通过模式选择，您可以设置一个定义的狭缝开口，或者通过使用自动优化模式来简化应用，确保能更大限度地屏蔽散射噪声而不会切断测量信号。
技术规格
| Pixos 2000 | Pixos 2000 CdTe | |
| 探测模式 | 0D、1D | 0D、1D |
| 传感器材料 | Si | CdTe |
| 像素尺寸 | 55 μm x 55 μm | 55 μm x 55 μm |
| 像素数 | 256 × 256 | 256 × 256 |
| 最高计数速率 | 2.65 x 109 cps（单道） 6.8 x 1010 cps（整体） | 2.65 x 109 cps（单道） 6.8 x 1010 cps（整体） |
| 支持的波长 | 全部（针对 Cu、Co、Cr 进行了优化） | 全部（针对 Mo、Ag 进行了优化） |
| 有缺陷的通道 | 0 | 0 |
