MCR 流变仪附件:
Rheo-SANS/SAXS
- “结构分析和流变光学”的附件
- 用于纳米结构分析的小角度散射
- 温度范围从 -50 °C 至 +300 °C
了解复杂流体在流动下的行为需要了解微观结构级别的结构变化。安东帕开发了一种专门的测量装置,可以将成熟的 MCR 流变仪技术与 x-射线或中子射线的小角X-射线散射( SAXS) 和小角中子散射(SANS)仪器结合使用。借助安东帕的 Rheo-SANS/SAXS 附件,所有流变测试类型均可同时进行实时小角散射。它由辐射对流温度装置和专门的测量系统组成,适用于从液体到粉末甚至薄膜等各种样品。
关键功能
所有流变测试类型的 SAXS 和 SANS 测量相结合
Rheo SANS/SAXS 附件与全功能的 MCR 流变仪和 SAXS 及SANS 组合,可在-50 °C 至 +300 °C 的温度下进行测量。您可以同时实时进行小角度散射并执行所有流变测试类型。在不同的剪切流场位置用光束观测,可提供各个平面的散射信息。可用的测量夹具包括由不同材料制成的同心圆筒(最大杯体直径 50 mm)和平行板(最大直径50mm)系统,以及 DMA 和拉伸夹具(SRF、SCF、UXF、SER)。对于特殊的安装条件,例如,在有限的空间内,我们可以提供特殊的流变仪类型。此外,我们的专家可根据要求设计满足您特定需求的单独测量装置。
SAXS 符合流变学原理,可进行剪切导致的纳米结构分析
小角 X 射线散射(SAXS)和广角 X 射线散射(WAXS)是对各种材料(例如,生物材料、胶体、悬浮液、纳米晶聚合物材料)的密度差异进行纳米级表征的有效方法。获得大分子的形状和尺寸、部分有序材料的特性距离、孔径及其他数据等相关信息。SAXS 测量方法结合流变学,可以研究复杂样品内部由剪切诱导的纳米结构变化 – 从流动和温度诱导的晶化到剪切带,以及其他诸多结构变化。所有辐照部件的默认材质为聚碳酸酯,也可根据要求提供其他材料(如聚酰亚胺)。辐照过的部件可以在一分钟内进行更换。
SANS 和 GISANS –纳米级表征
小角中子散射(SANS)是一种强大的纳米级材料表征方法。中子通过原子核或磁性样品中未成对电子自旋的磁距进行散射。X-射线光子不同,具有一个类似波长,与电子云相互作用,而中子则是与其原子核相互作用。中子是电中性粒子,可以深入探测固体材料。允许 Rheo-SANS 与介电光谱测量组合使用。
此外,还可以整合掠入式小角中子散射 (GISANS) 或中子散射特殊测量系统。
在默认情况下,辐照部件的材质为金属钛,也可根据要求提供其他材料(如石英玻璃)。辐照过的部件可以在一分钟内进行更换。
独特的测量技术,适用于复杂的应用
独特的 Rheo-SAXS/SANS Anton Paar 的安装程序已在世界各地的设施中用于复杂的最新技术研发。SAXS 和 SANS 都需要特殊的 X 射线源(同步加速器)或中子(反应堆或散裂源),通常只有大型研究机构才能使用。
典型应用:
- 聚合物溶液、熔体和薄膜的表征
- 生命科学材料
- 测定所有类型胶体中的(剪切诱导)纳米级结构
- 流动和温度引起的结晶和剪切带
- 关于高分子的形状和大小的信息。
- 部分有序材料的特征距离
- 生理条件下的蛋白质研究
- 反应动力学的时间分辨研究
安东帕认证服务
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- 3 年质保